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渦流測厚儀

發表時間:2014/11/14  |  點擊率:794

渦流測厚儀 型號:TC-ED400

TC-ED400型渦流測厚儀是TC-ED400型測厚儀的改進型,儀器性能大幅度提高。
      儀器適于測量各種非磁性金屬基體上緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽氧化膜或涂層厚度,還可用于測量其它鋁材料、鋁工件表面的陽氧化膜或涂層厚度,以及其他有色金屬材料上緣性覆蓋層的厚度,測量塑料薄膜及紙張厚度。
      儀器適于在生產現場、銷售現場或施工現場對產品進行快速、無損的膜厚檢查, 可用于生產檢驗、驗收檢驗和質量監督檢驗。
      儀器符合標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流法》。
儀器特點
    TC-ED400型渦流測厚儀與TC-ED400型相比,具有如下特點:
量程寬   TC-ED400型的量程達到0~500μm。
精度高   TC-ED400型的測量精度達到2%。
分辨率高  TC-ED400型的分辨率達到0.1μm。
校正簡便   只校正“0”和“50μm”兩點,即可在全量程范圍內保證設計精度。
基體導電率影響小   基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時,測量
   誤差不大于1~2μm。
可靠性提高   采用高集成度、高穩定性電子器件,電路結構優化,儀器可靠性
   提高。
穩定性提高   采用先進的溫度補償技術,測量值隨環境溫度的變化很小。儀器
   校正一次可在生產現場長期使用。
探頭線壽命長   采用德國進口的,在德國測厚儀上使用的探頭線,探頭線壽命
   可大大延長。
探頭芯壽命長   采用高強度磁芯材料,微調了探頭設計,探頭芯壽命可大大延
   長。
探頭可互換   外接式探頭,探頭損壞后,使用者可自行更換備用探頭。儀器無
   需返廠維修。

測量范圍:     0~500μm
測量精度:     0~50μm:±1μm;
                    50~500μm:±2%
分 辨 率:     0~50μm:0.1μm、
                    50~500μm:1μm;
                    0~500μm:1μm(可選)
使用溫度:     5~45℃
外形尺寸:     150mm×80mm×30mm
重      量:     260g

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